北京恒奧德儀器儀表有限公司
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HAD-GD-1A光電效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀的詳細(xì)資料：
光電效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀型號(hào)：HAD-GD-1A
半導(dǎo)體激光器：光譜650nm；作電壓：DC2.6V~3.2V；光電管作電壓：DC-2V~30V；微電測(cè)量：20μA，200μA，2000μA；分辨率0.01μA；光率：量程2mW；分辨率0.001 mW；數(shù)字電壓表：量程200V；分辨率0.1V；實(shí)驗(yàn)暗箱：460ⅹ105ⅹ90mm。
光電效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀型號(hào)：HAD-GD-1A
2.活性炭粒度測(cè)定儀/活性炭粒度測(cè)試儀/活性碳粒度檢測(cè)儀?? 型號(hào):HAD-LD3
主要部件及主要參數(shù):
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測(cè)顆粒粒度測(cè)定儀的主要部件及參數(shù)
l???????? 轉(zhuǎn)速：150±2r/min
轉(zhuǎn)軸偏心距：20?±1mm
2.定時(shí)器
3.電壓：220V??? 功率：0.5KW
3.手持式四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀 型號(hào):HAD-3
概述
HAD-3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.HAD 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由HAD-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配專用探頭，也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入
儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本技術(shù)參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率
電??? 阻：???? 0.010 ～ 50.00kΩ,???? 分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率：???? 0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方塊電阻：???? 0.050～ 100.00kΩ/□?? 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測(cè)材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下：
直??? 徑：HADT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180HADHAD×180HADHAD。
長(zhǎng)(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100HADHAD。.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.
4.多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀/臺(tái)式四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào):HAD-2258C
概述
HAD-2258C型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)等部分組成。
主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類功能，最大分類10類。
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配專用探頭，也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
測(cè)試臺(tái)選配：一般四探針法測(cè)試電阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型測(cè)試臺(tái)。二探針法測(cè)試電阻率測(cè)試選HAD-T-K型測(cè)試臺(tái)，也可選配HAD-T-D型測(cè)試臺(tái)以測(cè)試半導(dǎo)體粉末電阻率，選配HAD-T-G型測(cè)試臺(tái)測(cè)試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測(cè)試臺(tái)的特點(diǎn)與選型參考》
儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本技術(shù)參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率（括號(hào)內(nèi)為可向下拓展1個(gè)數(shù)量級(jí)）
電??? 阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103? Ω,??? 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103? Ω
???????? （1.0×10-6 ～ 20.00×103? Ω,??? 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm?? 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103? Ω-cm
???????? （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm? 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□??? 分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103? Ω/□
???????? （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□? 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103? Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定)
直??? 徑： HAD-T-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-T-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長(zhǎng)(高)度：? 測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,??? 手持方式不限.
測(cè)量方位:? 軸向、徑向均可
5.自動(dòng)表面/界面張力儀/表面張力儀 型號(hào)：HA/BZY-203
HA/BZY系列自動(dòng)表面/界面張力儀除了升降系統(tǒng)是手動(dòng)操作外，。具有高性能設(shè)計(jì)，經(jīng)濟(jì)型定位的特點(diǎn)，有著的性價(jià)比。
主要特征：
1. 鉑金板或鉑金環(huán)測(cè)試原理，操作簡(jiǎn)單方便；
2. 自動(dòng)數(shù)字化測(cè)量，減少人為操作誤差；
3. 全量程一鍵清零，瞬間完成，零位無(wú)漂移；
4. 全量程自動(dòng)校正，數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠、重復(fù)性；
5. 鉑金板測(cè)試時(shí)，顯示值即為試樣的表面/界面張力值，鉑金環(huán)測(cè)試時(shí)，具有峰值保持功能，需通過(guò)Exce計(jì)算或通過(guò)數(shù)據(jù)處理軟件自動(dòng)換算成表面/界面張力值；
6. 儀器結(jié)構(gòu)緊湊，獨(dú)立工作。也可選配多功能數(shù)據(jù)處理軟件，得到更多的信息；
7. 能測(cè)量試樣的表面張力因時(shí)間不同而產(chǎn)生的變化（特別是有表面活性劑或含有揮發(fā)性物質(zhì)時(shí)，限鉑金板測(cè)試模式下）；
8. 自動(dòng)量測(cè)中、高粘度液體樣品并得到準(zhǔn)確的平衡結(jié)果（限于鉑金板測(cè)試模式）；
9. 可測(cè)量不相混合液體之間界面張力如：油/水界面；
10.可取代傳統(tǒng)機(jī)械式表面張力儀，且精度更高、重復(fù)性更好、使用更方便；
11.本系列儀器除了手動(dòng)控制試樣平臺(tái)升降外，主要結(jié)構(gòu)和技術(shù)參數(shù)與QBZY系列相仿，具有高品質(zhì)設(shè)計(jì)、經(jīng)濟(jì)型價(jià)格，性價(jià)比特高。
以上參數(shù)資料與圖片相對(duì)應(yīng)
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